Katedra Metrologii i Elektroniki AGH w Krakowie
Strona główna
Aktualności
AGH
AGH w krakowie
EAIiIB
Biblioteka Główna
Katedra MiE
Historia
Pracownicy
Zespoły badawcze
Oferta technologiczna
Konferencje
Cadence (CAN)
Koła Naukowe
Materiały
Kontakt
Dydaktyka
Materiały
Godziny konsultacji
Egzaminy dyplomowe
Egzaminy
Spis wykładów
Wydawnictwa
Prace dyplomowe
Przedmioty obieralne
Materiały do pobrania:
Elektrotechnika
E: Metrologia, II rok
E: Metrologia, III rok, Studia niestacjonarne
E: Systemy Pomiarowe, III rok
E: Miernictwo Przemysłowe, III rok
E: Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych, II stopień, I rok
Pomiary technologiczne i biomedyczne
PTiB: Wyklady
PTiB: Informacje ogólne o specjaloności PTiB
PTiB: Tematy prac dyplomowych (propozycje)
PTiB: Biopomiary
PTiB: Algorytmy Przetwarzania i Analizy Cyfrowych Obrazów Medycznych i Technologicznych
PTiB: Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych
Inżynieria Biomedyczna
IB: Elektronika praktyczna, I rok
IB: Podstawy Metrologii, II rok
IB: Algorytmy przetwarzania i analizy obrazów medycznych, II stopień, II rok
IB: Biopomiary, III rok
Inżynieria Akustyczna
IA: Metrologia i Systemy Pomiarowe, II rok
Elektronika i Telekomunikacja
EiT: Metrologia, I rok
Informatyka Stosowana
IS: Komputerowe Systemy Pomiarowe, III rok
Energetyka
EN: Pomiary wielkości elektrycznych i nieelektrycznych, II stopień, I rok
Automatyka i Robotyka
AiR: Podstawy Metrologii
Wybierz język
Polski
English
Wyszukaj
Konferencje
MiSSP
MPM
Strony
Strona główna
Aktualności
AGH
AGH w Krakowie
EAIiIB
Biblioteka Główna
Katedra MiE
Historia
Zespoły badawcze
Oferta technologiczna
Cadence (CAN)
Materiały
Kontakt
Dydaktyka
Materiały
Godziny konsultacji
Spis wykładów
Wydawnictwa
Aktualności
Diamentowy Grant
1881
Media o nas
Dofinansowanie Prymusi AGH 2018
Harmonogram egzaminów, sesja zimowa 2017/18